A.应先观察透光,在较大透光处用塞尺测量
B.若放置的基准平台不平,会造成系统误差
C.若零件的基准面不平,会造成误差
D.应在不同方向不同位置多测几处,取平均值
A.精度小于打表测量法
B.测量出的塞尺最厚尺寸即为平面度数值
C.若零件的基准面不平,会造成误差
D.应在不同方向不同位置多测几处
A.需要将零件放置在一个基准平台上
B.在记录测量数据时,要区分表针正反转含义
C.可以用高度尺装表测量
D.平面度等于所有测量值的平均值
A.测量前,应先对仪表进行开路试验和短路试验
B.E接被测对象的导体,L接设备外壳或与被测导体绝缘的另一相导体
C.测试线可使用普通绞线或者双股线代替
D.可以直接使用兆欧表测量电子线路板的绝缘电阻