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[单选题]

X射线荧光元素录井仪器,仪器连续运行()天应进行重复性、稳定性校。

A.5

B.10

C.20

D.30

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第1题
在实际操作XRF仪器进行测试样品时,表述正确的有()
A.XRF能对元素进行定量和定性分析的是因为对由元素A和B所构成的样品进行X射线照射后,各个元素都会发生荧光X射线,但因两者所持能量强度不同,所以可以辨别B.样品按均质样品的测试原则拆分C.实际测试样品时,对于胶料我们一般选用标准曲线法,对于金属全部用金属FP法来测定D.样品的制备对测试结果有决定性的影响,实际测量中一定要使样品无污染,平整并有一定的厚度E.非均质样品(如:电子元器件)可以用XRF仪器直接扫描F.对于原子序数高于50的元素,一般必须使用它们的L系谱线来进行测定
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第2题
下列说法错误的是()。

A.X射线荧光光谱分析时,枪头可以对着人

B.X射线荧光光谱分析时,严禁雨天在室外进行光谱分析工作,避免仪器受雨淋

C.X射线荧光光谱分析时,严禁在易燃易爆物品附近进行

D.X射线荧光光谱分析在高空作业时,人和机器要有防坠装置

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第3题
能量色散型的X射线荧光光谱仪一般需要对哪些硬件参数进行定期的校准()

A.能量刻度

B.检测器分辨率

C.照射直径

D.激发强度

E.开机仪器自检校正

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第4题
X射线荧光光谱仪在什么条件下要自校准()。

A.环境温度变化很大时

B.测试数据比以前有较大偏差时

C.长时间未使用仪器,再次使用时

D.正常使用3天左右需做一次系统自检

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第5题
以下对K系和L系X光特征谱线波长与原子序数关系表述错误的是()

A.随着元素的原子序数增大,荧光产额增大

B.随着元素的原子序数增大,荧光产额减少

C.轻元素比重元素难于用XRF仪器检测出来

D.每个元素都有它的特征X射线荧光谱线,一般来讲,只要谱图中有这个元素的任何一个峰,则表示被测物质中含有这个元素

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第6题
气测录井仪器标定或现场校验、仪器检查、检验记录应保存至本井完井后。()
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第7题
综合录井工巡回检查路线(检查项点):仪器房-振动筛-循环罐-泵房-钻井液房-钻台-仪器房-地质值班房()
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第8题
每个元素X射线荧光能量是固定、当波形波峰位置和显示线位置一致时、就可以知道具体元素()
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第9题
录井仪器主电源电压输出正常、UPS输入无电压,可确定总电源过流过载保护器有问题()
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第10题
气测录井仪器标定,(),技术指标偏离,不能满足技术指标的规定时,应重新进行标定。(出自Q/SY02113-2017)

A.每口井录井后

B.录井过程中更换重要检测元件后

C.每口井录井前

D.录井过程中气体测量单元每次故障维修后

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第11题
增压防爆系统正常启动后,应使录井仪器房内或远程钻台显示器内的空气压力高于外部0.2~0.3atm为宜()
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