题目内容
(请给出正确答案)
[多选题]
下列缺陷那些为塑封的Killer defect()〒〒-1〒〒§0§1〒§true§false§0§true,,,§ceshi〒2〒
A.塑封体裂纹
B.芯片分层
C.芯片区域空洞
D.封反
答案
AB
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A.塑封体裂纹
B.芯片分层
C.芯片区域空洞
D.封反
AB
A.对缺陷进行分类,确定需要优先解决的缺陷,可以减少缺陷报告的处理的成本
B.风险和成本是某些程序缺陷不被修改的常见的理由
C.在新的软件版本中,要关注那些被推迟的缺陷
D.优先解决严重程度高的缺陷
A.塑封体内部结构外露即塑封体内部结构(芯片、键合线、芯片焊接的接合材、框架等)外露
B.塑封体划痕即塑封体表面有长度>塑封体短边的1/4,并且划痕宽度>0.2mm的划痕
C.锡球或锡渣残留即管脚上或塑封体上有锡球或锡渣残留
D.镀层变色包括锡层表面有明显的水渍、酸斑,类似手指印的污物、镀层发黄、发黑、发花等